• measX News

Treffen Sie uns auf der VIP 2017!

Am 18. und 19. Oktober bietet der Technologie- und Anwenderkongress "VIP 2017  Virtuelle Instrumente in der Praxis" von National Instruments erneut Anwendern und Experten eine hervorragende Plattform für den fachlichen Austausch. measX ist mit eigenem Messestand, Vorträgen und Workshops vertreten.

Während der beiden Veranstaltungstage finden Sie uns an Stand 1 im Ausstellungsbereich "Neues Foyer". Auf dem Kongress erwarten Sie eine Vielzahl an Vorträgen und Präsentationen. Wir informieren Sie über innovative Lösungen für Datenmanagement und Auswertung.

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measX-Technologietage 2017

Nach dem großen Erfolg der Vorjahre gehen die measX-Technologietage in die nächste Runde. In diesem Jahr liegt der Schwerpunkt auf der "Kopplung von Prüfstand und Auswertung". Kunden und Interessenten sind herzlich eingeladen, uns am 13. September in Mönchengladbach und am 20. September in Ludwigsburg zu besuchen.

Technologien entwickeln sich immer schneller weiter und die Innovationen der letzten Jahre sind für uns heute alltäglich geworden. Aus diesem Grund hat die Entwicklung neuer Technologien im Hause measX einen besonderen Stellenwert.

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DASYLab 2016 Service Pack 1 erschienen

Mit dem Service Pack 1 steht DASYLab 2016 in einer noch besseren Version bereit. Das kostenlose Update enthält kleinere Anpassungen und interessante Neuerungen.

Vor allem bietet das DASYLab 2016 Service Pack 1 einige Erweiterungen für das State-Machine-Modul. Dieses Modul steht seit DASYLab 2016 zur Verfügung und ist ein Highlight der aktuellen Version. Mit ihm lassen sich komplexe Testabläufe zu einigen wenigen Modulen zusammenfassen. Die Bedingungen für Schritt-Übergänge können nun noch flexibler verknüpft werden, und das Zurücksetzen des Moduls ist jetzt einfach möglich.

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SUFEHM-Auswertung als Option in X-Crash

Deutlich differenziertere Aussagen als das Standard HIC zur potenziellen Verletzung von Kopf und Gehirn erlaubt die modellbasierte Auswertung nach dem Finite-Elemente-Kopfmodell der Universität Straßburg (SUFEHM).

Die Option Advanced HIC für X-Crash basiert auf diesem Modell. Sie berücksichtigt auch den Zusammenhang zwischen dem zeitlichen Verlauf der crashbedingten Linear- und Rotationsbeschleunigungen des Kopfes.

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Portable, robuste Messsysteme für NI cDAQ

Als geeignete Plattform für transportable Messwerterfassungssysteme, die direkt mit den cDAQ Modulen von National Instruments bestückt werden können, hat measX die Geräte des chinesischen Herstellers Tainell in ihr Sortiment aufgenommen.
Die als LabPad Serie produzierten Tablet-PCs verfügen in der Version LabPad cDAQ-9701 über einen NI cDAQ-Slot in der Version LabPad cDAQ-9702 über zwei Slots.

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