Hochpräzise: X-Conn Runout vermisst Wellen

Die Standzeit von Wellen hängt maßgeblich von deren Rundlaufverhalten ab, aber auch Materialschäden können zu einem Versagen der Welle führen. measX hat ein mobiles, leicht zu handhabendes Prüfsystem entwickelt, das sowohl den Rundlauf, die Oberflächenrauhigkeit als auch, falls ein induktiver Sensor zum Einsatz kommt, Materialveränderungen in den Runout-Spuren der Wellen erkennen und darstellen kann.

Das System kann zur Qualitätskontrolle der Runout-Spuren während der Fertigung und Montage ebenso wie zur vorausschauenden Wartung am Einbauort einer Welle eingesetzt werden. Das Vermessungssystem arbeitet hochpräzise: Kleinste Schäden und Abweichungen werden erkannt.

Auch der Einsatz an Großwellen, die während des Betriebs durch Schwingungssensoren an bestimmten Runout-Messspuren auf ihren Runout berührungslos überwacht werden, ist durch die portable Ausführung problemlos möglich. Diese Messspuren werden in der Welle eingeschliffen und auf minimale Rauhigheit poliert und zeichnen sich durch höchste Oberflächengüte aus. Die hohe Genauigkeit des X-Conn Runout von < 1 µm lässt für diese Spuren präzise Aussagen zu.

Ihr Nutzen:

• Information: Selbst kleinste Schäden werden präzise identifiziert und dokumentiert.
• Kostenersparnis: Frühzeitige Information ermöglicht frühzeitige Intervention.
• Flexibilität: Das kompakte Gerät ist portabel und kann auch direkt am Einbauort eingesetzt werden.
• Einfachheit: X-Conn Runout ist komfortabel zu kalibrieren und einfach anzuwenden. 

 

Das sind die Highlights:

• Für beliebige Wellendurchmesser > 30 mm
• Sensoren mit einer Genauigkeit von 1 µm oder besser
• Zwei Messkanäle
• Vergleichende Auswertung von Messdaten
• Ausgabe des Rundheitsprofils am Bildschirm
• Automatisches Erzeugen und Drucken von Protokollseiten
• All-in-one-System mit integriertem IPC und 1HE-19“-System oder als 2HE-Box für den Anschluss über USB an Notebook oder PC
• Robust für raue Industrieumgebungen
• Bewährte Hardware-Komponenten von National Instruments
• Erfassungs- und Auswertesoftware auf Basis von LabVIEW von National Instruments
• Intuitive Bedienung