Treffen Sie uns auf der VIP 2017!

Am 18. und 19. Oktober bietet der Technologie- und Anwenderkongress "VIP 2017 – Virtuelle Instrumente in der Praxis" von National Instruments erneut Anwendern und Experten eine hervorragende Plattform für den fachlichen Austausch. measX ist mit eigenem Messestand, Vorträgen und Workshops vertreten.

Während der beiden Veranstaltungstage finden Sie uns an Stand 1 im Ausstellungsbereich "Neues Foyer". Auf dem Kongress erwarten Sie eine Vielzahl an Vorträgen und Präsentationen. Wir informieren Sie über innovative Lösungen für Datenmanagement und Auswertung.

Unsere Vorträge:

"ADAS IIT: One-Stop Test Solutions for Autonomous Driving" am 19.10.2017, 11.15 Uhr
Frank Heidemann (SET GmbH) und Dr. Joachim Hilsmann (measX GmbH & Co KG) zur Kooperation ADAS IIT

"Automatisierte Motorversuchsdatenauswertung auf Basis von X-Frame und dem NI TDM-Server" am 19.10.2017, 14.15 Uhr
Dr. Michael Röbel (DEUTZ AG) und Martin Winkler (measX GmbH & Co. KG)

Unsere Workshops:

"Datenmanagement- und Auswerte-Architektur mit DIAdem und X-Frame" am 18.10.2017, 11.30 Uhr
"Datenmanagement automatisieren – Vom Import bis zur serverbasierten Analyse" am 19.10.2017, 10.30 Uhr

Josef Eiswirt und Martin Winkler (measX) zeigen, wie in einem heterogenen Datenumfeld standardisierte Auswertungen mit DIAdem, X-Frame und der TDM-Suite von National Instruments entwickelt und umgesetzt werden.

VIP 2017
18.-19. Oktober 2017
Ort: Fürstenfeldbruck bei München 

Die vollständige Agenda sowie die Möglichkeit zur Anmeldung finden Sie auf den Webseiten von National Instruments.